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設備名稱
比表面與孔隙度分析儀
英文名稱
Ratio surface and porosity analyzer
型號
Tristar II 3020
生產廠家
美國麥克
購置日期
2018.8
單價（元）
34萬
存放地點
能源研究院332實驗室
儀器負責人
冷鈺鵬
聯系電話
0511-88799500
技術指標
三個※分析站同時運行
測定比表面積：0.0005 m2/g-無上限
孔徑分析範盗得圍：0.35-500 nm
主要功能及⌒應用
采用“靜態容量法”等溫吸附的◤原理，氣體在固體↓表面的吸附特征，在一崔峰定的壓力下，被測①樣品表面在超低溫下對氣體分子◆可逆物理吸附作用，通過測定出一定壓力下的平衡吸附量，利用理論模型求出被測∴樣品的比表面積和孔徑分布等與物理吸附有關的物理量。
1. 單點和多點BET比表面積，Langmuir比表面積
2. Temkin and Freundlich等校名溫線分析
3. 多種厚度層公示計算☆的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積和孔徑的分布
4. 孔體積和用戶指定♀孔徑範圍內的總孔體積
5. 微孔孔徑分布和微通常孔總孔體積
6. DFT密度尚跃红函數理論，包括NLDFT等。
